发明名称 SISTEMA DE INSPECCION POR RAYOS X CON FORMA ESPECTRAL.
摘要 Un sistema de inspección para inspeccionar un objeto (14), comprendiendo el sistema de inspección una fuente (18) de radiación penetrante (21) y al menos un detector (20), la fuente para generar un haz y para irradiar el objeto y caracterizado en cada instante de tiempo por un espectro de energía instantáneo y una intensidad, el detector para detectar la radiación penetrante después de la interacción con el objeto; estando caracterizado el sistema de inspección porque comprende un regulador (45) para proporcionar radiación penetrante incidente que tiene un primer espectro instantáneo dominado por fotones de energías menores que una primera energía fiducial en un primer caso de manera que los fotones de energías menores que la primera energía fiducial penetran a través del objeto, proporcionando el regulador radiación penetrante incidente que tiene un segundo espectro instantáneo dominado por fotones de energías que superan una segunda energía fiducial en un segundo caso si y solosi dichos fotones, cuando están presentes, de energías menores que la primera energía fiducial no penetran a través del objeto, de manera que una dosis de radiación media se mantiene por debajo de un nivel especificado.
申请公布号 ES2298220(T3) 申请公布日期 2008.05.16
申请号 ES20010910478T 申请日期 2001.02.09
申请人 AMERICAN SCIENCE & ENGINEERING, INC. 发明人 GRODZINS, LEE;ROTHSCHILD, PETER
分类号 G01V5/00;G01N23/02;G01N23/20 主分类号 G01V5/00
代理机构 代理人
主权项
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