| 发明名称 | 一种利用有效面积来建立记忆体电路的成品率模型的方法 | ||
| 摘要 | 本发明一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法，包括：(1)建立记忆体原始成品率模型；(2)建立记忆体特征失效成品率的模型；(3)记忆体特征失效的修复计算；(4)记忆体最终成品率的计算；(5)记忆体特征失效和工艺模块的缺陷率的互逆运算，建立记忆体电路成品率模型。本发明方法利用记忆体的设计版图，记忆体可利用的修复资源以及生产线各个工艺模块的缺陷率曲线，就可以精确地预估记忆体的初始成品率，修复之后的成品率，主要的失效特征的成品率，并且能够优化修复资源的设计。 | ||
| 申请公布号 | CN101178745A | 申请公布日期 | 2008.05.14 |
| 申请号 | CN200710157002.1 | 申请日期 | 2007.11.16 |
| 申请人 | 浙江大学 | 发明人 | 郑勇军;马铁中;史峥;严晓浪 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01) | 主分类号 | G06F17/50(2006.01) |
| 代理机构 | 杭州天勤知识产权代理有限公司 | 代理人 | 胡红娟 |
| 主权项 | 1.一种利用有效面积来建立记忆体电路成品率模型的方法，包括：(1)建立记忆体原始成品率模型；(2)建立记忆体特征失效成品率的模型；(3)记忆体特征失效的修复计算；(4)记忆体最终成品率的计算；(5)记忆体特征失效和工艺模块的缺陷率的互逆运算，建立记忆体电路成品率模型。 | ||
| 地址 | 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 | ||