发明名称 |
一种硅微压电式传感器芯片及其制备方法 |
摘要 |
本发明涉及的硅微压电传感器芯片,包括:n型硅基片中心有上小下大的方锥形孔,基片正、反面分别淀积氮化硅基膜层和掩膜层,基膜层中心设制圆孔,直径大于等于或小于硅基片正面方孔的对角线,掩膜层中心有与硅基片反面方孔相同尺寸的方孔;基膜层上表面有氮化硅振动膜,振动膜上表面有下电极;下电极上表面有压电膜;和光刻腐蚀在压电膜上表面的氧化硅膜保护层;以及保护层上表面的上电极;压电膜、护层层和上电极的形状均为圆形;氮化硅氮化硅或多晶硅振动膜与压电膜形成圆形压电膜/氮化硅或多晶硅复合弯曲振动膜。优点在于:该圆形压电膜/氮化硅或多晶硅复合弯曲振动膜可减小振动膜应力的不均匀性,避免应力过大引起的振动膜破裂,提高成品率,并明显提高传感器灵敏度。 |
申请公布号 |
CN100388521C |
申请公布日期 |
2008.05.14 |
申请号 |
CN200410098844.0 |
申请日期 |
2004.12.17 |
申请人 |
中国科学院声学研究所 |
发明人 |
杨楚威;黄歆;李俊红;汪承灏;解述;徐联 |
分类号 |
H01L41/08(2006.01);H03H9/15(2006.01) |
主分类号 |
H01L41/08(2006.01) |
代理机构 |
北京泛华伟业知识产权代理有限公司 |
代理人 |
高存秀 |
主权项 |
1.一种硅微压电传感器芯片,该硅微压电传感器芯片包括:一n型硅基片(1);该n型硅基片(1)正面和反面分别淀积一层氮化硅基膜层(2)和一层氮化硅掩膜层(9),所述硅基片(1)中心有体刻蚀时形成的上小下大的方锥形孔,所述氮化硅基膜层(2)中心设有孔(21),所述氮化硅掩膜层(9)中心有与n型硅基片(1)反面方孔相同尺寸的方孔(91);所述氮化硅基膜层(2)上表面上有氮化硅或多晶硅振动膜(4),以及依次制备在所述氮化硅或多晶硅振动膜(4)上表面上的下电极(5);制备在下电极(5)上表面上的压电膜(6);制备在压电膜(6)上表面上的氧化硅膜保护层(7);和制备在所述氧化硅膜保护层(7)上表面上的上电极(8);所述振动膜(4)、压电膜(6)、氧化硅膜保护层(7)和上电极(8)的形状均为圆形;其特征在于,所述的孔(21)为圆孔,其直径大于等于或小于n型硅基片(1)正面方孔的对角线;所述氮化硅或多晶硅振动膜(4)与压电膜(6)形成圆形压电膜/氮化硅或多晶硅复合弯曲振动膜。 |
地址 |
100080北京市海淀区北四环西路21号 |