发明名称 一种硅微压电式传感器芯片及其制备方法
摘要 本发明涉及的硅微压电传感器芯片,包括:n型硅基片中心有上小下大的方锥形孔,基片正、反面分别淀积氮化硅基膜层和掩膜层,基膜层中心设制圆孔,直径大于等于或小于硅基片正面方孔的对角线,掩膜层中心有与硅基片反面方孔相同尺寸的方孔;基膜层上表面有氮化硅振动膜,振动膜上表面有下电极;下电极上表面有压电膜;和光刻腐蚀在压电膜上表面的氧化硅膜保护层;以及保护层上表面的上电极;压电膜、护层层和上电极的形状均为圆形;氮化硅氮化硅或多晶硅振动膜与压电膜形成圆形压电膜/氮化硅或多晶硅复合弯曲振动膜。优点在于:该圆形压电膜/氮化硅或多晶硅复合弯曲振动膜可减小振动膜应力的不均匀性,避免应力过大引起的振动膜破裂,提高成品率,并明显提高传感器灵敏度。
申请公布号 CN100388521C 申请公布日期 2008.05.14
申请号 CN200410098844.0 申请日期 2004.12.17
申请人 中国科学院声学研究所 发明人 杨楚威;黄歆;李俊红;汪承灏;解述;徐联
分类号 H01L41/08(2006.01);H03H9/15(2006.01) 主分类号 H01L41/08(2006.01)
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 代理人 高存秀
主权项 1.一种硅微压电传感器芯片,该硅微压电传感器芯片包括:一n型硅基片(1);该n型硅基片(1)正面和反面分别淀积一层氮化硅基膜层(2)和一层氮化硅掩膜层(9),所述硅基片(1)中心有体刻蚀时形成的上小下大的方锥形孔,所述氮化硅基膜层(2)中心设有孔(21),所述氮化硅掩膜层(9)中心有与n型硅基片(1)反面方孔相同尺寸的方孔(91);所述氮化硅基膜层(2)上表面上有氮化硅或多晶硅振动膜(4),以及依次制备在所述氮化硅或多晶硅振动膜(4)上表面上的下电极(5);制备在下电极(5)上表面上的压电膜(6);制备在压电膜(6)上表面上的氧化硅膜保护层(7);和制备在所述氧化硅膜保护层(7)上表面上的上电极(8);所述振动膜(4)、压电膜(6)、氧化硅膜保护层(7)和上电极(8)的形状均为圆形;其特征在于,所述的孔(21)为圆孔,其直径大于等于或小于n型硅基片(1)正面方孔的对角线;所述氮化硅或多晶硅振动膜(4)与压电膜(6)形成圆形压电膜/氮化硅或多晶硅复合弯曲振动膜。
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