发明名称 半导体器件的制造方法
摘要 本发明公开一种半导体器件制造方法,其特征在于包括:第一步骤,其利用接合线在电极片上形成凸点,所述电极片形成在基板的与半导体芯片相对应的区域中;第二步骤,其在堆叠于所述基板上的叠层用基板中形成导通孔,并且用导电膏填入所述导通孔,在所述叠层用基板的第一主表面上形成有导电层,所述导通孔从所述叠层用基板的第二主表面到达所述导电层;第三步骤,其通过绝缘层将所述叠层用基板附着到所述基板上,并且通过所述导电膏连接所述导电层与所述凸点;以及第四步骤,其将所述基板分割成单独的块。
申请公布号 CN101179036A 申请公布日期 2008.05.14
申请号 CN200710163792.4 申请日期 2007.11.08
申请人 新光电气工业株式会社 发明人 町田洋弘;小林敏男
分类号 H01L21/60(2006.01) 主分类号 H01L21/60(2006.01)
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 代理人 顾红霞;张天舒
主权项 1.一种半导体器件的制造方法,包括:第一步骤,其利用接合线在电极片上形成凸点,所述电极片形成在基板的与半导体芯片相对应的区域中;第二步骤,其在堆叠于所述基板上的叠层用基板中形成导通孔,并且用导电膏填入所述导通孔,在所述叠层用基板的第一主表面上形成有导电层,所述导通孔从所述叠层用基板的第二主表面到达所述导电层;第三步骤,其通过绝缘层将所述叠层用基板附着到所述基板上,并且通过所述导电膏连接所述导电层与所述凸点;以及第四步骤,其将所述基板分割成单独的块,其中,所述凸点穿透所述绝缘层。
地址 日本长野县