| 发明名称 | 叠层体缺陷部位的表示方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种简便地表示移动中的带状物的缺陷部位，并防止该缺陷部位的影响扩大到正常部位的方法。其解决手段为一种这样的方法，其特征是在连续制造带状物的过程中，包含用细长的磁片在宽度方向上从上下夹住移动着的带状物的缺陷部位和正常部位的界限的工序，由此表示移动的带状物的缺陷部位和正常部位的界限，并且防止在制造过程中缺陷部位的影响扩大到正常部位。 | ||
| 申请公布号 | CN100388094C | 申请公布日期 | 2008.05.14 |
| 申请号 | CN200310116417.6 | 申请日期 | 2003.11.18 |
| 申请人 | 新日本石油化学株式会社 | 发明人 | 平井知生;市塚敏博 |
| 分类号 | G02F1/1337(2006.01) | 主分类号 | G02F1/1337(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 陈昕 |
| 主权项 | 1.一种表示移动中的带状薄膜叠层体的缺陷部位和正常部位的界限的方法，其特征为包含以下步骤：(1)由至少2层带状高分子薄膜层和位于该高分子薄膜层间的软质层形成带状薄膜叠层体的步骤、(2)将移动中的该带状薄膜叠层体的缺陷部位和正常部位的界限在宽度方向上从上下用细长的磁片夹住的步骤和(3)取下该磁片的步骤。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||