| 发明名称 |
System zur Erfassung von potentiell abnormalen Schatten |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
DE60225756(D1) |
申请公布日期 |
2008.05.08 |
| 申请号 |
DE2002625756 |
申请日期 |
2002.06.12 |
| 申请人 |
FUJIFILM CORPORATION |
发明人 |
HIDEYA, TAKEO;TAKASHI IMAMURA |
| 分类号 |
G03B42/02;G06T7/00;A61B6/00;G06K9/00;G06K9/46;G06T1/00;H04N7/18 |
主分类号 |
G03B42/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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