发明名称 粒状物体的检查方法及实施该方法的检查装置
摘要 在粒状物体的检查方法及实施该方法的检查装置中,对作为检查对象的药剂10a、10b进行摄像,把该摄像的图像各像素的像素值加以数字化,沿着对应于数字图像内的药剂10a、10b的块区域的轮廓线分散多个参照点,从各个参照点,计数通过块区域内部可以看透的其他参照点的数量,把计数值最小的参照点作为基准点提取,把该基准点数作为粒状物体的个数进行计数。由此,即使当作为检查对象的多个粒状物体重叠、接触以及单面有凹陷的药剂竖起时,也可以正确计数粒状物体的个数。
申请公布号 CN101175990A 申请公布日期 2008.05.07
申请号 CN200680005617.6 申请日期 2006.02.20
申请人 松下电工株式会社 发明人 奥斯卡·万格斯;白泽满
分类号 G01N21/85(2006.01);A61J3/00(2006.01);G06T1/00(2006.01);G06T7/60(2006.01) 主分类号 G01N21/85(2006.01)
代理机构 北京中博世达专利商标代理有限公司 代理人 申健
主权项 1.一种粒状物体的检查方法,其是对作为检查对象的含有粒状物体的摄像区域进行摄像,被摄像到的图像的各像素的像素值经数字化的数字图像内,对应于粒状物体的物体区域进行多个接触,形成一个块状区域时,通过从该块区域将上述各个物体区域的分离,检查摄像区域内存在的粒状物体的粒状物体检查方法;其特征在于,该法具有:从上述数字图像中把上述块区域作为图像处理的对象区域提取出来的第一提取处理;以及,在通过上述第一提取处理所提取的对象区域的内侧,沿该对象区域的轮廓线分散设定多个参照点的设定处理;以及对于上述设定的各个参照点,从该参照点开始对通过上述对象区域的区域内部可以看透的其他参照点数进行计数的计数处理;以及从上述对象区域内存在的多个参照点,把通过上述计数处理的计数值最小的参照点作为基准点提取的第二提取处理;以及从通过上述第二提取处理提取的基准点开始,将通过上述对象区域的区域内部可以看透的参照点加以全部选择,被选择的参照点及上述基准点间可以互相连接的区域,作为粒状物体的物体区域提取的第三提取处理;以及,从通过上述第三提取处理提取的对象区域,除去上述物体区域后的区域作为新的对象区域进行提取的第四提取处理;把反复进行上述第二至第四提取处理而提取的基准点数作为粒状物体的个数进行计数。
地址 日本大阪府