| 发明名称 | 用于晶片测试装置的探测器 | ||
| 摘要 | 一种被构造成用于测试集成电路的探测器，包括：终止于脚部(42)的第一端部，该脚部限定了被构造成连接至衬底(400)的基本平坦的表面；终止于顶端(50)的第二端部，该顶端被构造成在测试集成电路的过程中与集成电路相接触；以及在第一端部与第二端部之间延伸的弯曲本体部分(56)。 | ||
| 申请公布号 | CN101176003A | 申请公布日期 | 2008.05.07 |
| 申请号 | CN200680009628.1 | 申请日期 | 2006.02.16 |
| 申请人 | SV探针私人有限公司 | 发明人 | 利希·坦·德兰;爱德华·兰伯特·马兰托尼奥;爱德华·劳伦特;利安·哈农;达恩·米罗内斯库 |
| 分类号 | G01R1/067(2006.01) | 主分类号 | G01R1/067(2006.01) |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 章社杲;吴贵明 |
| 主权项 | 1.一种被构造成用于测试集成电路的探测器，所述探测器包括：终止于脚部的第一端部，所述脚部限定了被构造成连接至衬底的基本平坦的表面；终止于顶端的第二端部，所述顶端被构造成在测试集成电路的过程中与所述集成电路相接触；以及在所述第一端部与所述第二端部之间延伸的弯曲本体部分。 | ||
| 地址 | 新加坡新加坡 | ||