发明名称 非易失性存储器及其制造方法与操作方法
摘要 本发明公开了一种非易失性存储器,具有设置于基底上的存储器单元。基底中具有沟槽。存储器单元具有第一栅极、第二栅极、电荷储存层、第一源极/漏极区与第二源极/漏极区。第一栅极设置在沟槽中。第二栅极设置于沟槽一侧的基底上。电荷储存层设置于第一栅极与基底之间及第二栅极与基底之间。第一源极/漏极区设置在沟槽底部的基底中。第二源极/漏极区设置于第二栅极一侧的基底中。
申请公布号 CN101174653A 申请公布日期 2008.05.07
申请号 CN200610143309.1 申请日期 2006.11.03
申请人 力晶半导体股份有限公司 发明人 陈世宪;郭兆玮;毕嘉慧;刘应励
分类号 H01L29/792(2006.01);H01L29/423(2006.01);H01L27/115(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L21/28(2006.01);H01L21/8247(2006.01);G11C16/02(2006.01) 主分类号 H01L29/792(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 陶凤波
主权项 1.一种非易失性存储器,包括:基底,该基底中具有沟槽;第一存储器单元,设置于该基底上,该第一存储器单元包括:第一栅极,设置于该沟槽中;第二栅极,设置于该沟槽一侧的该基底上;电荷储存层,延伸设置于该第一栅极与该基底之间及该第二栅极与该基底之间;第一源极/漏极区,设置于该沟槽底部的该基底中;以及第二源极/漏极区,设置于该第二栅极一侧的基底中。
地址 中国台湾新竹科学工业园区