用于测试确定电子设备中的最小运行电压的方法和装置

摘要

本发明涉及用于测试电子设备中最小运行电压的方法和装置在一个实施例中，一种测试系统测试被测设备(DUT)。DUT包括执行内建自测(BIST)程序的内部测试控制器。内建自测程序包括基于阵列的自动内建自测程序、离散和组合逻辑内建自测程序、以及功能架构验证程序(AVP)。外部制造系统测试控制器管理DUT内的内部测试控制器，并且为向DUT供电的电源输入电压确定最小运行电压电平。逻辑仿真器提供建模能力，以进一步增强DUT的最小电压电源输入运行值的发展。

主权项

1.一种用于确定被测设备DUT的最小运行电压的方法，该方法包括：由电源将电压提供给DUT；由时钟电路将展现预定频率的时钟信号提供给DUT；由耦合到电源的控制器将电源电压从预定的电压值改变至越来越低的电压值；由内部测试控制器在改变步骤期间利用第一测试来测试，以确定DUT在预定的频率成功运行的第一最小电压；以及由外部测试控制器在改变步骤期间利用第二测试来测试，以确定DUT在预定的频率成功运行的第二最小电压。