| 摘要 |
<p>Die vorliegende Erfindung betrifft ein Mikroskop (1) und insbesondere ein Polarisations- und/oder ein Fluoreszenzmikroskop. Das Mikroskop (1) umfasst einen Beleuchtungsstrahlengang (15) und einen Abbildungsstrahlengang (16). Der Abbildungsstrahlengang (16) erstreckt sich von einem Objekt zu einem Detektor und/oder zu einem Tubus (122). Der Abbildungsstrahlengang (16) weist eine ein Objekt abbildende Abbildungsoptik (6) auf und ist in Form eines Weitfeld-Abbildungsstrahlengangs ausgebildet. Im Abbildungsstrahlengang (16) sind ein erstes und ein zweites Ablenkmittel (23, 24) vorgesehen. Mit dem ersten Ablenkmittel (23) ist ein Teil des Abbildungslichts in eine erste Richtung (25) ablenkbar. Mit dem zweiten Ablenkmittel (24) ist ein weiterer Teil des Abbildungslichts in eine zweite Richtung (26) ablenkbar. Des Weiteren betrifft die vorliegende Erfindung eine optische Anordnung (35) die in einen Strahlengang (15, 16) eines Mikroskops (1) einbringbar ist und mit welcher ein erfindungsgemäßes Mikroskop (1) ausbildbar ist. Damit eine simultane Detektion dynamischer Prozesse eines mit dem Mikroskop (1) untersuchten Objekts mit einfacheren Mitteln und mit verbesserten Detektionseigenschaften möglich ist, ist ein solches Mikroskop (1) dadurch gekennzeichnet, dass das von den Ablenkmitteln (23, 24) abgelenkte Abbildungslicht simultan mit mindestens einer Detektionseinrichtung (27) detektierbar ist, ohne hierfür eine zusätzliche optische Abbildung vorzusehen.</p> |
