| 主权项 |
1.一种半导体测试装置,可供一承载至少一组具有 多数晶片的待测盘置放,以进行测试,该半导体测 试装置包含: 一检测座,包括一可供该待测盘置放的检测区; 一固定座,位于该检测座上并与该检测区间隔固设 ; 一驱动单元,设置在该固定座上且包括一驱动件, 及一穿设该固定座中且受该驱动件驱动而可上下 位移的伸缩杆; 一测试单元,包括至少一装设在该检测座内并可判 断该组晶片好坏的测试卡、一连接该伸缩杆且位 于相对靠近该检测区的移动件,及一与该移动件连 接的测试基板,其中,该测试基板上具有多数个与 该测试卡电连接的测试埠;及 一显示单元,设置在该检测座且显露于该检测座表 面,该显示单元是电连接该测试基板之每一测试埠 ,用以显示测试后该待测盘上所对应之晶片的测试 结果; 该移动件受该驱动件驱动而在一测试位置,及一远 离该检测区之非测试位置之间移动,当该移动件位 于该测试位置时,该测试基板之每一测试埠与该待 测盘上相对应的晶片电连接,当该移动件位于该非 测试位置时,该测试基板之每一测试埠与该待测盘 相互远离。 2.依据申请专利范围第1项所述半导体测试装置,其 中,该测试单元包括多数个装设在该检测座内的测 试卡,所述测试卡可检测承载在该待测盘上的多数 组晶片。 3.依据申请专利范围第1项所述半导体测试装置,其 中,该驱动件为一气压缸,可驱动该伸缩杆上下位 移。 4.依据申请专利范围第1项所述半导体测试装置,其 中,该显示单元包括一显示测试进度的进度指示器 、一设定测试时间的时间指示器,及相对应显示该 待测盘之晶片测试结果的测试指示器。 5.依据申请专利范围第1项所述半导体测试装置,更 包含有一平衡单元,该平衡单元包括二分别自邻近 该移动件二端向上延伸的平衡杆,及一位于该驱动 单元之驱动件上方且连接所述平衡杆的连接件,用 于保持该测试单元之移动件在水平状态且不偏倾 。 6.依据申请专利范围第1项所述半导体测试装置,更 包含有一限位单元,该限位单元设置在该连接件上 且用于限制该测试单元之移动件的位移。 7.依据申请专利范围第6项所述半导体测试装置,其 中,该限位单元包括至少一空心且固接在平衡单元 之连接件上的外支撑杆,及一设置于该外支撑杆内 的内支撑杆。 图式简单说明: 图1是一立体图,说明本新型半导体测试装置之较 佳实施例; 图2是一立体图,辅助说明本新型半导体测试装置 之较佳实施例之态样; 图3是一立体图,说明该较佳实施例之测试基板的 态样; 图4是一立体图,辅助说明该较佳实施例在非测试 位置之态样;及 图5是一立体图,辅助说明该较佳实施例在测试位 置之态样。 |
