发明名称 为破坏晶圆表面电路之去除设备
摘要 本发明涉及一种为破坏晶圆表面电路之去除设备,特别系指一种可在晶圆厂内破坏晶圆表面电路的去除设备,该去除设备系设于移动式车体上,其系包含有一去除装置、一输送装置、一入料装置及一出料装置,其中入、出料装置系设于输送装置两端,且输送装置可将晶圆载入去除装置内部,而去除装置系于输送装置之晶圆上方设有复数喷砂单元,喷砂单元系以水平方式进行喷砂,又去除装置于晶圆下方设有一抽风单元,其可利用抽风之风力使喷砂向下刮除、破坏晶圆表面之护层与电路,透过前述之间接喷砂之特殊设计,使其可直接于晶圆厂进行破坏晶圆表面电路布局的工作,以防止晶圆电路布局外泄,同时可避免破坏薄膜或矽基板,让晶圆矽基板可再生做为量测晶圆或太阳能板之矽基板。
申请公布号 TW200820331 申请公布日期 2008.05.01
申请号 TW095139126 申请日期 2006.10.24
申请人 廖桂敏 发明人 廖桂敏
分类号 H01L21/302(2006.01);H01L21/02(2006.01) 主分类号 H01L21/302(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 台中市北屯区松义街158之9号3楼之1
您可能感兴趣的专利