发明名称 DISPOSITIVO Y PROCEDIMIENTO PARA LA MEDICION DE PIEZAS.
摘要 Procedimiento para la medición de piezas (1) por medio de un sistema (20) de medición conducido con un manipulador (10), en el que se disponen de manera descentralizada en diferentes posiciones en la proximidad de una pieza (1) a medir características (9, 9a,...,9i) de referencia, que se asignan al menos a un objeto (6) de medida, que se halla en la pieza (1) a medir a una distancia pequeña de la característica (9, 9a,...,9i) de referencia, en el que, antes de la medición de un objeto (6) de medida se lleva en primer lugar el sistema (20) de medición, por medio del manipulador (10) a a una posición de calibrado en la que, para el calibrado de un sistema de coordenadas del manipular (10) se realiza con el sistema (20) de medición una medición de la características (9, 9a,...,9i) de referencia asignada al objeto (6) de medida, en el que se desplaza después el sistema (20) de medición por medio del manipulador (10) a una posición de medición en la que tiene lugar la medición del objeto (6) de medida correspondiente, en el que el sistema (20) de medición para la medición de la característica (9, 9a,...,9i) de referencia, para la medición de los objetos (6) de medida está dispuesto, permaneciendo fijo el manipulador (10), de manera desplazable linealmente a lo largo de un eje (21) del sistema de medición y/o de manera giratoria alrededor de un eje (40) del sistema de medición y en el que se determina durante el calibrado la posición del eje (21, 40) del sistema de medición en un sistema de coordenadas fijo con relación a la características (9, 9a,...,9i) de referencia.
申请公布号 ES2297559(T3) 申请公布日期 2008.05.01
申请号 ES20050009161T 申请日期 2005.04.26
申请人 CLAAS FERTIGUNGSTECHNIK GMBH 发明人 HERRMANN, GUNTER;HILBK-KORTENBRUCK, FRANK
分类号 G01B21/04;B25J9/16;G01B11/25 主分类号 G01B21/04
代理机构 代理人
主权项
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