发明名称 |
一种调焦调平测量系统 |
摘要 |
一种调焦调平测量系统,包括光源模块(1)、照明光学模块(2)、物光栅(3)、第一成像模块(4)、第一偏置平板(5)、被测对象(6)、第二偏置平板(7)和第二成像模块(8),还包括DRC模块和探测模块(12),其中DRC模块还包括分束器(9)和倒像器(10)。相对于现有的调焦调平测量系统而言,本发明具有更高的稳定性、重复性和测量精度,而且能够平均掉被测对象(6)上由于局部反射率不均引起的测量误差,以及光源光强变化和被测对象反射率整体变化等引起的测量误差,同时本发明还具有结构简单,对被测对象的敏感性较差的优势。 |
申请公布号 |
CN101169601A |
申请公布日期 |
2008.04.30 |
申请号 |
CN200710170748.6 |
申请日期 |
2007.11.21 |
申请人 |
上海微电子装备有限公司 |
发明人 |
关俊 |
分类号 |
G03F9/00(2006.01);G03F7/20(2006.01) |
主分类号 |
G03F9/00(2006.01) |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所 |
代理人 |
屈蘅;李时云 |
主权项 |
1.一种调焦调平测量系统,包括光源模块(1)、照明光学模块(2)、物光栅(3)、第一成像模块(4)、第一偏置平板(5)、被测对象(6)、第二偏置平板(7)和第二成像模块(8),其特征在于,还包括DRC模块和探测模块(12),其中DRC模块还包括分束器(9)和倒像器(10);所述的分束器(9),用于将进入DRC模块的光束分为两束,一束直接成像在探测模块(12)处,另一束进入倒像器(10);所述的倒像器(10),用于将进入它的光束倒像后,成像在探测模块(12)处;所述的探测模块(12),用于探测被测对象(6)的位置信息。 |
地址 |
201203上海市张江高科技园区张东路1525号 |