发明名称 一种调焦调平测量系统
摘要 一种调焦调平测量系统,包括光源模块(1)、照明光学模块(2)、物光栅(3)、第一成像模块(4)、第一偏置平板(5)、被测对象(6)、第二偏置平板(7)和第二成像模块(8),还包括DRC模块和探测模块(12),其中DRC模块还包括分束器(9)和倒像器(10)。相对于现有的调焦调平测量系统而言,本发明具有更高的稳定性、重复性和测量精度,而且能够平均掉被测对象(6)上由于局部反射率不均引起的测量误差,以及光源光强变化和被测对象反射率整体变化等引起的测量误差,同时本发明还具有结构简单,对被测对象的敏感性较差的优势。
申请公布号 CN101169601A 申请公布日期 2008.04.30
申请号 CN200710170748.6 申请日期 2007.11.21
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 关俊
分类号 G03F9/00(2006.01);G03F7/20(2006.01) 主分类号 G03F9/00(2006.01)
代理机构 上海思微知识产权代理事务所 代理人 屈蘅;李时云
主权项 1.一种调焦调平测量系统,包括光源模块(1)、照明光学模块(2)、物光栅(3)、第一成像模块(4)、第一偏置平板(5)、被测对象(6)、第二偏置平板(7)和第二成像模块(8),其特征在于,还包括DRC模块和探测模块(12),其中DRC模块还包括分束器(9)和倒像器(10);所述的分束器(9),用于将进入DRC模块的光束分为两束,一束直接成像在探测模块(12)处,另一束进入倒像器(10);所述的倒像器(10),用于将进入它的光束倒像后,成像在探测模块(12)处;所述的探测模块(12),用于探测被测对象(6)的位置信息。
地址 201203上海市张江高科技园区张东路1525号