发明名称 |
晶片测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种晶片测试方法,包括如下步骤:首先,根据晶片及探针卡的信息,计算同测时探针的最短走向;然后,测试仪把走向的方式通过GPIB(通用接口总线)接口给探针台系统发送命令,控制探针台系统托盘的走向,实现对晶片测试的最优化。采用本方法减少了在同测时对晶片的扎针次数,能有效减少产品测试时间,提高测试效率。 |
申请公布号 |
CN101169461A |
申请公布日期 |
2008.04.30 |
申请号 |
CN200610117430.7 |
申请日期 |
2006.10.23 |
申请人 |
上海华虹NEC电子有限公司 |
发明人 |
谢晋春;辛吉升;杜发魁;桑浚之;陈凯华;陈婷 |
分类号 |
G01R31/00(2006.01);G01R31/26(2006.01);G01R31/28(2006.01);H01L21/66(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/00(2006.01) |
代理机构 |
上海浦一知识产权代理有限公司 |
代理人 |
顾继光 |
主权项 |
1.一种晶片测试方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,根据晶片及探针卡的信息,计算同测时探针台系统托盘的最短走向;步骤2,测试仪把走向方式的信息通过GPIB接口给探针台系统发送命令,控制探针台系统托盘的走向;步骤3,探针台系统取得测试仪的走向信息后,探针台系统托盘移动到的相应位置,扎针,然后探针台系统给测试仪发送可以开始测试的信息;步骤4,测试仪收到开始测试的命令后,测试程序开始测试,测试完毕后,把测试结果和一个移动位置测试结束的命令发送给探针台系统,探针台系统收到信息后,把针移开,等待接收下一个移动位置的坐标信息;步骤5,探针台系统和测试仪重复步骤2至步骤4的操作,直到测试仪给探针台系统发送整枚晶片测试完毕的信息。 |
地址 |
201206上海市浦东新区川桥路1188号 |