发明名称 一种6nm-100nm波段极紫外成像光学仪器成像质量测试装置
摘要 本发明属于短波段成像光学领域,具体的说是一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置。在本发明中设计了如图所表示的检测装置,整个光学系统均处于真空条件下,极紫外光源1发出极紫外光束经过精密刻画的金属栅网7后,打到反射镜3和4,最后经过待测极紫外成像光学系统5在极紫外相机6上成像,金属栅网的网格尺度与所成的像进行比较,经过计算即可得到待测光学系统的分辨率数据。本发明的有益效果为:提供了一种结构简单、性能可靠能够对极紫外成像光学仪器成像质量进行测试的装置。
申请公布号 CN101169349A 申请公布日期 2008.04.30
申请号 CN200610163271.4 申请日期 2006.12.18
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 巩岩
分类号 G01M11/00(2006.01);G01M11/02(2006.01) 主分类号 G01M11/00(2006.01)
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 代理人 南小平
主权项 1.一种6nm-100nm波段极紫外成像光学仪器成像质量测试装置,光源(1)产生的平行光通过鉴别率板(2)后经反射镜(3)和(4),最后经过待检成像系统(5)在探测器(6)上成像,根据所成影像中鉴别率板的线对的清晰程度,经过计算既可得到待检成像光学系统的分辨率数据,其特征是:所述鉴别率板(2)是精密刻画的金属栅网(7)。
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