| 发明名称 | 电涡流位移/振动传感器系统校验仪 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种电涡流位移/振动传感器系统校验仪，包括：驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、精密磨床磨制测试斜盘；所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接，两对极的旋变和闭环驱动控制与精密磨床磨制测试斜盘连接；本发明的有益效果是：在高速电流伺服单元和速度伺服单元的控制下，实现更高精度、更快响应的伺服控制，两对极的旋变和闭环驱动控制(军用雷达控制技术)，转速范围1～6000r/min，精度0.16‰。 | ||
| 申请公布号 | CN101165460A | 申请公布日期 | 2008.04.23 |
| 申请号 | CN200610117396.3 | 申请日期 | 2006.10.20 |
| 申请人 | 上海瑞视仪表电子有限公司 | 发明人 | 徐健 |
| 分类号 | G01D21/00(2006.01);G01D18/00(2006.01);G01M19/00(2006.01) | 主分类号 | G01D21/00(2006.01) |
| 代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人 | 胡美强 |
| 主权项 | 1.一种电涡流位移/振动传感器系统校验仪，其特征在于包括：驱动模块主控制单元、两对极的旋变和闭环驱动控制、精密磨床磨制测试斜盘；所述的驱动模块主控制单元与两对极的旋变和闭环驱动控制连接，两对极的旋变和闭环驱动控制与精密磨床磨制测试斜盘连接。 | ||
| 地址 | 201108上海市闵行区金都路4299号 | ||