| 发明名称 | 异步芯片同测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种异步芯片同测方法，首先，对被测芯片异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。本发明基于外部时钟控制来实现对异步芯片测试同测方法，缩短芯片的测试时间，提高芯片同测数量和测试频率。 | ||
| 申请公布号 | CN101165501A | 申请公布日期 | 2008.04.23 |
| 申请号 | CN200610117248.1 | 申请日期 | 2006.10.18 |
| 申请人 | 上海华虹NEC电子有限公司 | 发明人 | 武建宏;黄海华 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01);G01R31/317(2006.01) | 主分类号 | G01R31/28(2006.01) |
| 代理机构 | 上海浦一知识产权代理有限公司 | 代理人 | 丁纪铁 |
| 主权项 | 1.一种异步芯片同测方法，其特征在于：首先，对被测芯片异步信号的第一位指令进行匹配；其次，通过对先匹配到的芯片的时钟信号控制，使多个异步被测芯片保持同步；之后，再连续比对响应的多位指令，实现多个异步被测芯片同时测试时对多位异步信号的匹配。 | ||
| 地址 | 201206上海市浦东新区川桥路1188号 | ||