| 发明名称 | 构造物位移测量装置 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种通过线性判读来正确测量工厂以及建筑现场的设置中或已设置的各种构造物和桩子等的下陷量以及微小振动造成的位移的构造物位移测量装置，该装置包括：向安装在构造物上的反射板照射光源的光信号发生部、将反射板反射的光信号转换为电信号的探测传感器部、将探测传感器部转换的电信号转换为数字信号的控制装置部、对控制装置部转换的数字信号进行分析的分析装置部。 | ||
| 申请公布号 | CN101165455A | 申请公布日期 | 2008.04.23 |
| 申请号 | CN200610145296.1 | 申请日期 | 2006.11.29 |
| 申请人 | 美胜C&S检查株式会社 | 发明人 | 金胜 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01);G01S17/08(2006.01) | 主分类号 | G01B11/02(2006.01) |
| 代理机构 | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周建秋;王凤桐 |
| 主权项 | 1.一种用于测量各种构造物和桩子下陷量及位移的构造物位移测量装置，其特征是，所述装置包括：向安装在构造物(180)上的反射板(113)照射光源的光信号发生部(110)、将所述反射板(113)反射的光信号转换为电信号的探测传感器部(130)、将所述探测传感器部(130)转换的电信号转换为数字信号的控制装置部(150)、将所述控制装置部(150)转换的数字信号进行分析的分析装置部(170)；其中，所述光信号发生部(110)包括：向所述反射板(113)照射光源并表示测点位置的测点表示部(111)、对通过所述测点表示部(111)表示在所述反射板(113)上的测点距离进行计测的测点距离计测部(112)、和向所述反射板(113)照射光源并使照射位置与通过所述测点表示部(111)表示的测点位置一致的内部光源(114)。 | ||
| 地址 | 韩国釜山广域市 | ||