| 发明名称 | 内外径两用千分尺 | ||
| 摘要 | 内外径两用千分尺，它涉及一种千分尺。针对现有的千分尺受结构的限制，不能用一把千分尺同时测量工件的内径和外径，且体积较大，不利于携带和保管的问题。本实用新型的尺身(7)的左支架总成(6)的上端装有移动测砧，尺身(7)的右支架总成(8)的上端装有微分测头或数显测头，校对基准总成(9)装在移动测砧与微分测头或数显测头之间。本实用新型具有精度高，测量准确、实用，体积小，便于携带、保管的优点，用此一把千分尺能测量工件的内外径尺寸，本实用新型主要用于重型机械制造业和大型设备的维修上。 | ||
| 申请公布号 | CN201045573Y | 申请公布日期 | 2008.04.09 |
| 申请号 | CN200720116317.7 | 申请日期 | 2007.06.01 |
| 申请人 | 薛国丰 | 发明人 | 薛国丰 |
| 分类号 | G01B3/18(2006.01) | 主分类号 | G01B3/18(2006.01) |
| 代理机构 | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人 | 岳泉清 |
| 主权项 | 1.一种内外径两用千分尺，它由测量装置(45)、尺身(7)和校对基准总成(9)组成，所述测量装置(45)由移动测砧、微分测头或数显测头组成，所述移动测砧是左内径移动测砧(2)或左外径移动测砧(4)；其特征在于所述尺身(7)的左支架总成(6)的上端装有左内径移动测砧(2)或左外径移动测砧(4)，尺身(7)的右支架总成(8)的上端装有微分测头或数显测头，所述微分测头是内径微分测头(3)或外径微分测头(5)，所述数显测头是内径数显测头(47)或外径数显测头(46)，所述校对基准总成(9)装在左内径移动测砧(2)的外端及内径微分测头(3)的圆头端或内径数显测头(47)的圆头端之间或装在左外径移动测砧(4)的里端及外径微分测头(5)的里端或外径数显测头(46)的里端之间，且校对基准总成(9)的左平行夹块(10)和右平行夹块(11)分别与左内径移动测砧(2)的圆头端及内径微分测头(3)的圆头端或内径数显测头(47)的圆头端相接触或分别与左外径移动测砧(4)的里端和外径微分测头(5)的里端或外径数显测头(46)的里端相接触。 | ||
| 地址 | 150040黑龙江省哈尔滨市香坊区哈平路134号林科院院内 | ||