发明名称 |
硬件模块测试系统及方法 |
摘要 |
本发明公开了一种硬件模块测试系统及方法。其中,该硬件模块测试方法包括以下步骤:S202,在硬件版本库中存储待测试硬件模块的硬件版本信息;S204,在测试项库中存储待测试硬件模块的测试项;S206,在映射关系库中存储待测试硬件模块的硬件版本信息与待测试硬件模块的测试项之间的映射关系;以及S208,调用执行单元库中存储的待测试硬件模块的测试执行单元,根据待测试硬件模块的硬件版本信息与待测试硬件模块的测试项之间的映射关系,找出与待测试硬件模块的硬件版本信息对应的测试项,并利用所找出的测试项对待测试硬件模块进行测试。通过本发明,可以高效地实现对待测试硬件模块的测试。 |
申请公布号 |
CN101159775A |
申请公布日期 |
2008.04.09 |
申请号 |
CN200710181818.8 |
申请日期 |
2007.10.16 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
崔文会;王卓勇;何祎 |
分类号 |
H04M3/22(2006.01);H04B17/00(2006.01);H04Q7/34(2006.01) |
主分类号 |
H04M3/22(2006.01) |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
尚志峰;吴孟秋 |
主权项 |
1.一种硬件模块测试系统,其特征在于,包括:硬件版本库,用于存储待测试硬件模块的硬件版本信息;测试项库,用于存储所述待测试硬件模块的测试项;映射关系库,用于存储所述待测试硬件模块的硬件版本信息与所述待测试硬件模块的测试项之间的映射关系;以及执行单元库,用于存储所述待测试硬件模块的测试执行单元,所述测试执行单元用于根据所述待测试硬件模块的硬件版本信息与所述待测试硬件模块的测试项之间的映射关系,找出与所述待测试硬件模块的硬件版本信息对应的测试项,并利用所找出的测试项对所述待测试硬件模块进行测试。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 |