发明名称 液晶显示装置的缺陷修补方法及缺陷修补装置
摘要 本发明的目的在于提供一种亮点缺陷的修补方法,可不影响周围的像素,采用简易的工序使亮点黑点化,即便时间经过,也不恢复亮点而被维持。本发明修补具备液晶面板的液晶显示装置的亮点缺陷像素(B),该液晶面板由一对基板(20a、20b)、介于该一对基板间的液晶层(10)、和设置在基板和液晶层之间,限制液晶层的液晶取向的取向膜(12a、12b)构成,其特征在于:包含对对应于取向膜的亮点缺陷像素的范围照射激光,使取向膜的取向限制力局部降低或消失的工序;在使液晶显示时,通过降低透过使所述取向限制力降低或消失的范围的光的强度,来修补亮点缺陷像素。
申请公布号 CN100380181C 申请公布日期 2008.04.09
申请号 CN200510099027.1 申请日期 2005.09.05
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 梅津一成
分类号 G02F1/13(2006.01);B23K26/00(2006.01) 主分类号 G02F1/13(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1.一种液晶显示装置的缺陷修补方法,修补具备液晶面板的液晶显示装置的亮点缺陷像素,该液晶面板由一对基板、介于该一对基板间的液晶层、和设置在所述基板和所述液晶层之间并限制该液晶层的液晶取向的取向膜构成,其特征在于,包括:在将偏光板分别设置在所述液晶面板的一面和另一面、并且设定偏光轴使得透过一个所述偏光板的光在所述取向膜的取向限制力降低或消失时可透过另一个所述偏光板的状态下,在与所述取向膜的所述亮点缺陷像素对应的范围照射激光,使所述取向膜的取向限制力局部降低或消失的工序;通过测定透过了一个所述偏光板和所述液晶面板的所述激光透过另一个所述偏光板的光量,检测所述取向膜的取向限制力的降低或消失的工序,在使所述液晶显示时,通过降低透过使所述取向限制力降低或消失的范围的光的强度,修补所述亮点缺陷像素。
地址 日本东京