发明名称 对准标记,对准方法和对准系统
摘要 本发明提供了一种对准系统、对准方法和对准标记,该对准标记包括大周期光栅分支和小周期光栅分支,采用分光路探测系统,同时对组成光栅标记的大周期光栅分支±1级衍射光相干成像和小周期光栅分支±1级衍射光相干成像分别进行信号采集、处理与拟合,并结合两组信号的相位信息,确定精确的对准位置。由于仅采用±1衍射光相干成像,避免了高级次衍射光需采用具有楔板调节装置的空间分离装置;采用小周期光栅分支,可以保证获得高的对准精度;采用分光路探测系统,避免了粗对准信号和精对准信号之间串扰现象。
申请公布号 CN101158821A 申请公布日期 2008.04.09
申请号 CN200710045496.4 申请日期 2007.08.31
申请人 上海微电子装备有限公司 发明人 李运锋;韦学志;徐荣伟;陈勇辉;周畅
分类号 G03F9/00(2006.01) 主分类号 G03F9/00(2006.01)
代理机构 上海思微知识产权代理事务所 代理人 屈蘅
主权项 1.一种用于光刻设备的对准系统,其特征在于,所述对准系统包括:光源模块,用于提供对准系统照明光束;照明模块,用于将所述对准照明光束传输到对准标记上;标记模块,用于将照明光束衍射后的出射光携带有关于对准标记结构的全部信息,将透过参考光栅的光强调制为具有恒定周期的正弦信号;成像模块,用于通过物镜收集对准标记的衍射光或反射光,并利用第一成像光路对组成对准标记的粗对准光栅分支相干成像以及利用第一成像光路对组成对准标记的精对准光栅分支相干成像;信号检测与处理模块,用于处理第一光信号和第二光信号,并结合第一光信号的相位信息和第二光信号的相位信息确定对准标记的位置信息。
地址 201203上海市张江高科技园区张东路1525号