METHOD AND APPARATUS FOR RAPID SAMPLE PREPARATION IN A FOCUSED ION BEAM MICROSCOPE,申请号KR20067009108-传众专利搜索

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发明名称	METHOD AND APPARATUS FOR RAPID SAMPLE PREPARATION IN A FOCUSED ION BEAM MICROSCOPE
摘要
申请公布号	KR100819953(B1)	申请公布日期	2008.04.08
申请号	KR20067009108	申请日期	2006.05.10
申请人		发明人
分类号	H01J37/20;B01F;H01J37/26	主分类号	H01J37/20
代理机构		代理人
主权项
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