发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum Reduzieren von Plasma-induzierter Beschädigung in einer Halbleiteranordnung
摘要 Einige vorgestellte Ausführungsbeispiele beziehen sich auf eine Vorrichtung zum Ätzen eines Halbleiterwafers und Verfahren zum Herstellen desselben, die eine Mehrzahl von Elektroden, die zum Erzeugen eines Plasmastrahls an eine Stromversorgung gekoppelt sind, und zumindest eine elektromagnetische Strahlungsquelle und eine Waferunterstützung zum Positionieren eines Wafers zum Ätzen mittels des Plasmastrahls umfasst und wobei die Waferunterstützung eine Mehrzahl von Öffnungen aufweist, die ein Hineiner elektromagnetischen Strahlungsquelle durch die Waferunterstützung erlauben, wodurch diese während des Ätzens auf einer Oberfläche des Wafers auftrifft.
申请公布号 DE102007043336(A1) 申请公布日期 2008.04.03
申请号 DE200710043336 申请日期 2007.09.12
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 KERBER, MARTIN
分类号 H01L21/3065 主分类号 H01L21/3065
代理机构 代理人
主权项
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