发明名称 |
等离子体增强化学气相淀积方法 |
摘要 |
一种等离子体增强化学气相淀积方法,所述等离子体增强化学气相淀积过程包含淀积和原位清洁步骤,所述淀积气体包括反应气体及辅助气体,所述辅助气体具有标准流量值;所述淀积气体通过第一气体通道通入反应室,所述原位清洁气体通过第二气体通道通入反应室;由所述第一气体通道通入反应气体及具有第一流量值的辅助气体;同时由所述第二气体通道通入具有第二流量值的辅助气体。采用本发明方法,抑制了反应物微粒的生成,进而减少了微粒缺陷的产生。 |
申请公布号 |
CN101153385A |
申请公布日期 |
2008.04.02 |
申请号 |
CN200610116842.9 |
申请日期 |
2006.09.30 |
申请人 |
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
发明人 |
孙海兵 |
分类号 |
C23C16/513(2006.01);C23C16/448(2006.01);C23C16/52(2006.01);H01L21/205(2006.01);H01L21/365(2006.01) |
主分类号 |
C23C16/513(2006.01) |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 |
代理人 |
逯长明 |
主权项 |
1.一种等离子体增强化学气相淀积方法,所述等离子体增强化学气相淀积过程包含淀积和原位清洁步骤,所述淀积气体包括反应气体及辅助气体,所述辅助气体具有标准流量值;所述淀积气体通过第一气体通道通入反应室,所述原位清洁气体通过第二气体通道通入反应室;其特征在于:由所述第一气体通道通入反应气体及具有第一流量值的辅助气体;同时由所述第二气体通道通入具有第二流量值的辅助气体。 |
地址 |
201203上海市浦东新区张江路18号 |