| 摘要 |
<p>Je popisována kontaktní sonda (20) pro testovací hlavu (1) takového typu, u kterého je množství takových sond (20) zasunuto do vodících otvoru (4, 5), provedených v príslušných matricích (24, 25), pricemž sonda (20) obsahuje tycovité teleso (21) opatrené na konci alespon kontaktní špickou (22) schopnou zajistit mechanický a elektrický kontakt s príslušnou kontaktní ploškou (8) zkoušeného integrovaného elektronického zarízení. Je výhodné, jestliže tycovité teleso (21) má nejednotný prurez. Navícje zde popisována testovací hlava (1) a zpusob vytvorení kontaktní sondy (20) podle tohoto vynálezu.</p> |
