发明名称 |
隧道磁阻元件、磁头以及磁存储器 |
摘要 |
本发明提供一种具有大MR比的隧道磁阻(TMR)元件。这种TMR元件在磁化固定层与磁化自由层之间形成有隧道阻挡层,在磁化自由层上设置有覆盖层。隧道阻挡层由MgO膜形成。磁化自由层由CoFeB膜形成。覆盖层通过紧接在CoFeB膜上面形成Ti膜而形成,使得Ti膜与CoFeB膜相接触。这样可以大大提高TMR元件的MR比。此外,将这种TMR元件应用于磁头和磁存储器(MRAM),可以改善磁头和MRAM的性能。 |
申请公布号 |
CN101154708A |
申请公布日期 |
2008.04.02 |
申请号 |
CN200710153185.X |
申请日期 |
2007.09.28 |
申请人 |
富士通株式会社 |
发明人 |
指宿隆弘;佐藤雅重;梅原慎二郎 |
分类号 |
H01L43/08(2006.01);H01F10/32(2006.01);H01F10/16(2006.01);G11B5/39(2006.01);G11C11/15(2006.01);G11C11/16(2006.01) |
主分类号 |
H01L43/08(2006.01) |
代理机构 |
隆天国际知识产权代理有限公司 |
代理人 |
张龙哺 |
主权项 |
1.一种隧道磁阻元件,包括:磁化固定层,其磁化方向固定;隧道阻挡层,形成在所述磁化固定层上;磁化自由层,形成在所述隧道阻挡层上,且由CoFeB膜形成,使得所述磁化自由层的磁化方向可变;覆盖层,包括Ti膜,并形成在所述磁化自由层上,使得所述Ti膜与所述磁化自由层相接触。 |
地址 |
日本神奈川县川崎市 |