发明名称 隧道磁阻元件、磁头以及磁存储器
摘要 本发明提供一种具有大MR比的隧道磁阻(TMR)元件。这种TMR元件在磁化固定层与磁化自由层之间形成有隧道阻挡层,在磁化自由层上设置有覆盖层。隧道阻挡层由MgO膜形成。磁化自由层由CoFeB膜形成。覆盖层通过紧接在CoFeB膜上面形成Ti膜而形成,使得Ti膜与CoFeB膜相接触。这样可以大大提高TMR元件的MR比。此外,将这种TMR元件应用于磁头和磁存储器(MRAM),可以改善磁头和MRAM的性能。
申请公布号 CN101154708A 申请公布日期 2008.04.02
申请号 CN200710153185.X 申请日期 2007.09.28
申请人 富士通株式会社 发明人 指宿隆弘;佐藤雅重;梅原慎二郎
分类号 H01L43/08(2006.01);H01F10/32(2006.01);H01F10/16(2006.01);G11B5/39(2006.01);G11C11/15(2006.01);G11C11/16(2006.01) 主分类号 H01L43/08(2006.01)
代理机构 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人 张龙哺
主权项 1.一种隧道磁阻元件,包括:磁化固定层,其磁化方向固定;隧道阻挡层,形成在所述磁化固定层上;磁化自由层,形成在所述隧道阻挡层上,且由CoFeB膜形成,使得所述磁化自由层的磁化方向可变;覆盖层,包括Ti膜,并形成在所述磁化自由层上,使得所述Ti膜与所述磁化自由层相接触。
地址 日本神奈川县川崎市