| 发明名称 | X－射线诊断装置及获得X－射线图象的方法 | ||
| 摘要 | 一种为包括多个成像系统的X-射线诊断装置获得X-射线图象的方法，包括：在从第一成像系统内的第一X-射线管辐射出X-射线之后，用第一X-射线探测器收集第一散射数据；在从第二成像系统内的第二X-射线管辐射出X-射线之后，用第二X-射线探测器收集第二散射数据；在从第一成像系统内的第三X-射线管辐射出X-射线之后，用X-射线探测器收集包括散射分量的第一图象数据；在从第二成像系统内的第四X-射线管辐射出X-射线之后，用X-射线探测器收集包括散射分量的第二图象数据；和通过分别从包括散射分量的第一和第二图象数据中减去第一和第二散射数据为第一和第二成像系统获得X-射线图象。 | ||
| 申请公布号 | CN100377690C | 申请公布日期 | 2008.04.02 |
| 申请号 | CN200410004945.7 | 申请日期 | 2004.02.13 |
| 申请人 | 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社 | 发明人 | 坂口卓弥;本明 |
| 分类号 | A61B6/00(2006.01);G01N23/04(2006.01) | 主分类号 | A61B6/00(2006.01) |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 王永刚 |
| 主权项 | 1.一种X-射线诊断装置，包括：多个X-射线管；和多个相应于各个X-射线管的X-射线探测器，其中该多个X-射线探测器中的每一个包括用第一数目的探测元件收集图象数据的第一图象数据收集功能和用第二数目的探测元件收集图象数据的第二图象数据收集功能，该第二数目少于该第一数目。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||