发明名称 | 飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置和方法 | ||
摘要 | 一种利用飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置和方法。装置构成主要包括飞秒激光源和CCD摄象机及计算机控制和处理系统,所述的方法利用该装置将物体移动前后的散斑场分别用CCD探测器记录下来并储存于计算机中,对移动前的散斑场和移动后的散斑场进行相关性运算,就可以确定出场的移动量;本发明可以对散斑场移动作实时测量;精确到亚像素大小。飞秒激光与分子、生物体的相互作用导致散斑的产生是常见的现象,本发明利用飞秒散斑的信息,可以得知散射体的空间运动信息有重要意义。 | ||
申请公布号 | CN100378432C | 申请公布日期 | 2008.04.02 |
申请号 | CN200610026621.2 | 申请日期 | 2006.05.17 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 周常河;刘文军 |
分类号 | G01B11/02(2006.01) | 主分类号 | G01B11/02(2006.01) |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
主权项 | 1.一种飞秒激光散斑相关法测量微小位移的装置,其特征在于包括一飞秒激光器(1),在该飞秒激光器(1)的光束前进方向依次设有第一个透镜(2)、第二个透镜(21)、待测体(3)、CCD探测器(4),所述的第一个透镜(2)、第二个透镜(21)的焦点重合,所述的CCD探测器(4)的输出端与计算机(5)的输入端相连,所述的飞秒激光器(1)发射的飞秒激光经过第一个透镜(2)被会聚到焦点,然后经过第二个透镜(21)变成平行光,照射到待测体(3)的表面。 | ||
地址 | 201800上海市800-211邮政信箱 |