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发明名称
凸块测试单元、装置及测试方法
摘要
一种凸块测试单元包括:一支撑基板,设置有至少两探针,该些探针突出于该支撑基板之一表面;以及一数位侦测装置,埋设于该支撑基板内。其中该数位侦测装置包括一第一输入端子;一第二输入端子;以及一输出端子,其中该第一输入端子电性连结于该些探针之一。本发明亦提供了一种凸块测试装置与测试方法。
申请公布号
TW200816339
申请公布日期
2008.04.01
申请号
TW096101743
申请日期
2007.01.17
申请人
台湾积体电路制造股份有限公司
发明人
郭彦良;林育漳;林裕庭
分类号
H01L21/66(2006.01)
主分类号
H01L21/66(2006.01)
代理机构
代理人
洪澄文;颜锦顺
主权项
地址
新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
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