发明名称 在半导体元件中制造电容的方法
摘要 本发明揭露一种用于在半导体元件中形成电容的方法。该方法包含:在半导体基板上形成储存节点电极;在该储存节点电极上方形成具有高介电常数的介电层;在该介电层上方沉积板状电极,藉以形成副生成物杂质;以及当在该板状电极上方沉积顶盖层时,藉由将含氢(H)原子气体导至该半导体基板上方,以除去残留在该板状电极上方的该副生成物杂质。
申请公布号 TW200816390 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW096127045 申请日期 2007.07.25
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 朴哲焕;朴东洙;李银儿;徐惠真
分类号 H01L21/8242(2006.01);H01L27/04(2006.01) 主分类号 H01L21/8242(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;丁国隆
主权项
地址 韩国