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发明名称
在半导体元件中制造电容的方法
摘要
本发明揭露一种用于在半导体元件中形成电容的方法。该方法包含:在半导体基板上形成储存节点电极;在该储存节点电极上方形成具有高介电常数的介电层;在该介电层上方沉积板状电极,藉以形成副生成物杂质;以及当在该板状电极上方沉积顶盖层时,藉由将含氢(H)原子气体导至该半导体基板上方,以除去残留在该板状电极上方的该副生成物杂质。
申请公布号
TW200816390
申请公布日期
2008.04.01
申请号
TW096127045
申请日期
2007.07.25
申请人
海力士半导体股份有限公司
发明人
朴哲焕;朴东洙;李银儿;徐惠真
分类号
H01L21/8242(2006.01);H01L27/04(2006.01)
主分类号
H01L21/8242(2006.01)
代理机构
代理人
何金涂;丁国隆
主权项
地址
韩国
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