发明名称 半导体装制中凹入闸极之制造方法
摘要 一种半导体装置中凹入闸极之制造方法,该方法包括:在一基板上,形成一装置隔离结构,以界定一主动区;在该基板上形成一硬遮罩图案,以选择性地露出该主动区的至少一部分;系透过一蚀刻制程,在该主动区形成一凹入图案,且使用该硬遮罩图案作为一蚀刻障蔽;除去该硬遮罩图案;在该基板上形成一闸极绝缘层;以及在该闸极绝缘层上形成一闸极电极,以至少覆盖该凹入图案。
申请公布号 TW200816326 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW096100477 申请日期 2007.01.05
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 张世亿;赵兴在;金泰润
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 何金涂;李国光
主权项
地址 韩国