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发明名称
半导体装制中凹入闸极之制造方法
摘要
一种半导体装置中凹入闸极之制造方法,该方法包括:在一基板上,形成一装置隔离结构,以界定一主动区;在该基板上形成一硬遮罩图案,以选择性地露出该主动区的至少一部分;系透过一蚀刻制程,在该主动区形成一凹入图案,且使用该硬遮罩图案作为一蚀刻障蔽;除去该硬遮罩图案;在该基板上形成一闸极绝缘层;以及在该闸极绝缘层上形成一闸极电极,以至少覆盖该凹入图案。
申请公布号
TW200816326
申请公布日期
2008.04.01
申请号
TW096100477
申请日期
2007.01.05
申请人
海力士半导体股份有限公司
发明人
张世亿;赵兴在;金泰润
分类号
H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01)
主分类号
H01L21/336(2006.01)
代理机构
代理人
何金涂;李国光
主权项
地址
韩国
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