| 摘要 |
一检测光学指向装置之抬离表面部份的方法，该装置包含一同调光源、一包括像素阵列之光检测装置、及包括具有可调偏移值之比较器的用以抽取动作特性的装置，该方法包含步骤：（i）藉由该同调光源，照射该表面部份；（ii）藉由该光检测装置，检测自该被照射之表面部份反射辐射图案；（iii）比较在该检测的辐射图案中之相邻像素间之光强度；（iv）抽取动作特性作为该比较结果的函数；（v）计数被抽取之动作特性的总数；（vi）当该动作特性的总数增加时，增加该比较器偏移值，及当该动作特性总数减少时，减少该比较器的偏移值；其中该方法更包含步骤：（vii）比较该比较器偏移值与一偏移临限；（viii）如果该比较器偏移值低于该偏移临限，则致能一抬举状态的检测。 |
