发明名称 晶片封装体、晶片结构及其制程
摘要 一种晶片结构,其包括一积体电路元件、多个凸块以及至少一间隙物。积体电路元件具有多个接点。凸块位于这些接点上。间隙物位于积体电路之表面上,并且位于两相邻凸块之间,其中间隙物的最大厚度小于或等于凸块之厚度。经由间隙物的配置,本发明可以使这两个相邻的凸块维持在良好的电性绝缘状态。此外,本发明更提出此晶片结构的制程以及具有此晶片结构的晶片封装体。
申请公布号 TW200816421 申请公布日期 2008.04.01
申请号 TW095136205 申请日期 2006.09.29
申请人 联咏科技股份有限公司 发明人 林瑞昌;张大鹏
分类号 H01L23/31(2006.01) 主分类号 H01L23/31(2006.01)
代理机构 代理人 詹铭文;萧锡清
主权项
地址 新竹县新竹科学工业园区创新一路13号2楼