发明名称 Teilsystem einer Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage
摘要 Die Erfindung betrifft ein Teilsystem einer Beleuchtungseinrichtung einer mikrolithographischen Projektionsbelichtungsanlage, wobei die Beleuchtungseinrichtung zum Beleuchten einer Retikelebene der Projektionsbelichtungsanlage mit Licht einer gewünschten Polarisationsverteilung ausgelegt ist, und wobei das Teilsystem ein erstes polarisationsbeeinflussendes optisches Element (12, 30), welches eine von einer Lichtquelle erzeugte erste Polarisationsverteilung (101, 102) in eine zweite Polarisationsverteilung (201, 202) umwandelt, die von der ersten Polarisationsverteilung verschieden ist, und ein zweites polarisationsbeeinflussendes optisches Element (15, 25), welches die zweite Polarisationsverteilung in eine der gewünschten Polarisationsverteilung entsprechende dritte Polarisationsverteilung umwandelt, aufweist, wobei das zweite polarisationsbeeinflussende optische Element über seine gesamte optisch wirksame Fläche eine effektive Drehung der Polarisationsvorzugsrichtung um 90° bewirkt.
申请公布号 DE102007042047(A1) 申请公布日期 2008.03.27
申请号 DE20071042047 申请日期 2007.09.05
申请人 CARL ZEISS SMT AG 发明人 FIOLKA, DAMIAN
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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