| 摘要 |
Ein Verfahren zum Scannen einer Probe mittels eines elektrisch und/oder elektronisch steuerbaren Mikroskops (1), wobei eine Vielzahl von Bildern, insbesondere digitalen Bildern, an unterschiedlichen Stellen der Probe und/oder zu unterschiedlichen Zeiten erzeugt werden und wobei das Mikroskop (1) wäh(2) gesteuert wird, ist im Hinblick auf einen möglichst schnellen und präzisen Scanvorgang mit möglichst geringem Datenaufkommen auch bei einer hohen Anzahl von Bildern dadurch gekennzeichnet, dass eine Beobachtung und/oder Analyse der erzeugten Bilder bei mindestens einem über ein Netzwerk (4) verbundenen weiteren Rechner (7) durchgeführt wird und dass, basierend auf deren Ergebnissen, eine Klassifikation der Bilder vorgenommen und/oder der Scanvorgang beeinflusst wird. Ein entsprechendes Mikroskopiersystem ist angegeben. |
