发明名称 测长装置
摘要 本发明公开一种测长装置,其用于对测量物的形状进行测量,该测长装置包括测量探测器、可动机台及校正模块,该测量探测器包括第一测量探测器和第二测量探测器,其中,该第一测量探测器上设有沿测长方向设置且对测量物进行测量的测量端子;该第二测量探测器上设有沿测长方向设置且对平面基准面进行测量的测量端子,该校正模块收集该第一测量探测器和第二测量探测器的测量信息后对其进行校正。
申请公布号 CN101149257A 申请公布日期 2008.03.26
申请号 CN200710127745.4 申请日期 2007.06.22
申请人 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司;FTC株式会社 发明人 刘庆;李;中川威雄
分类号 G01B21/02(2006.01);G01B21/06(2006.01) 主分类号 G01B21/02(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种测长装置,其用于对测量物的形状进行测量,该测长装置包括测量探测器、可动机台及校正模块,该测量探测器包括第一测量探测器和第二测量探测器,其特征在于:该第一测量探测器上设有沿测长方向设置且对测量物进行测量的测量端子;该第二测量探测器上设有沿测长方向设置且对平面基准面进行测量的测量端子,该校正模块收集该第一测量探测器和第二测量探测器的测量信息后对其进行校正。
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