发明名称 |
硬件模块测试方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种硬件模块测试方法及系统。其中,该硬件模块测试方法包括以下步骤:S102,分析硬件模块需要经历的测试场合,收集各测试场合的测试特点;S104,对各测试场合的测试特点进行统计,分离出各测试场合的独有测试特点和公有测试特点;S106,根据各测试场合的独有测试特点,建立各测试场合的测试专用执行单元,并根据各测试场合的公有测试特点,建立各测试场合的测试公用执行单元;S108,利用各测试场合的测试专用执行单元和测试公用执行单元,对硬件模块在各测试场合的功能或者性能进行测试。通过本发明,可以大大节省测试成本投入,提高开发和测试效率。 |
申请公布号 |
CN101150456A |
申请公布日期 |
2008.03.26 |
申请号 |
CN200710164258.5 |
申请日期 |
2007.10.17 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
崔文会;王卓勇;石檬 |
分类号 |
H04L12/26(2006.01);G06Q50/00(2006.01) |
主分类号 |
H04L12/26(2006.01) |
代理机构 |
北京康信知识产权代理有限责任公司 |
代理人 |
尚志峰;吴孟秋 |
主权项 |
1.一种硬件模块测试方法,其特征在于,包括以下步骤:分析硬件模块需要经历的测试场合,收集各测试场合的测特点;对所述各测试场合的测试特点进行统计,分离出所述各测试场合的独有测试特点和公有测试特点;根据所述各测试场合的独有测试特点,建立所述各测试场合的测试专用执行单元,并根据所述各测试场合的公有测试特点,建立所述各测试场合的测试公用执行单元;以及利用所述各测试场合的测试专用执行单元和测试公用执行单元,对所述硬件模块在所述各测试场合的功能或者性能进行测试。 |
地址 |
518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 |