| 发明名称 | 试样分析方法及试样分析装置 | ||
| 摘要 | 一种标本分析的新方法，该方法在对标本进行分析前可以检测出所有干扰物质，包括以下步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取光学信息的步骤；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取光学信息，并通过处理标本光学信息，对分析用试样进行分析的步骤，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据标本光学信息，设定与分析用试样相适应的分析条件。 | ||
| 申请公布号 | CN101151521A | 申请公布日期 | 2008.03.26 |
| 申请号 | CN200680010678.1 | 申请日期 | 2006.03.23 |
| 申请人 | 希森美康株式会社 | 发明人 | 山本典正;松尾直彦 |
| 分类号 | G01N21/78(2006.01);G01N33/483(2006.01);G01N21/27(2006.01);G01N35/02(2006.01) | 主分类号 | G01N21/78(2006.01) |
| 代理机构 | 北京金之桥知识产权代理有限公司 | 代理人 | 梁朝玉 |
| 主权项 | 1.一种试样分析方法，具备三个步骤：向标本照射光线、从所述标本中获取光学信息的步骤；将所述标本与试剂混合、调制分析用试样的步骤；以及向所述分析用试样照射光线，从分析用试样获取光学信息，并通过处理标本光学信息，对分析用试样进行分析的步骤，其中，在对分析用试样进行分析这一步骤中，根据标本光学信息，设定与分析用试样相适应的分析条件。 | ||
| 地址 | 日本兵库县 | ||