发明名称 | 动态存储器及测试动态存储器之方法 | ||
摘要 | 本发明涉及一种动态存储器,它包含一个存储器单元阵列(10),一个测试控制器(12),用于测试存储器单元阵列(10),以及一振荡器(14)用来控制存储器单元阵列(10)之更新。根据本发明,所述存储器包含用于使用振荡器(14)作为测试控制器的一个时钟基础的装置(16)。由此,达成一个慢速时钟基础,它可用于存储器的不同的自身测试。 | ||
申请公布号 | CN100377260C | 申请公布日期 | 2008.03.26 |
申请号 | CN02810578.8 | 申请日期 | 2002.05.13 |
申请人 | 因芬尼昂技术股份公司 | 发明人 | C·奥尔霍夫 |
分类号 | G11C29/00(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 余刚;李丙林 |
主权项 | 1.一种动态存储器,具有一存储器单元阵列(10),一测试控制器(12)用以执行该存储器单元阵列(10)的自身测试,一振荡器(14)用以控制该存储器单元阵列(10)的更新,以及用以利用该振荡器(14)作为该测试控制器(12)的时间基础的装置,其特征在于,该测试控制器(12)执行的自身控制的时间基础比该存储器单元阵列(10)的功能测试的时间基础慢。 | ||
地址 | 德国慕尼黑 |