发明名称 |
用于薄膜力学性能测试的单轴微拉伸试件 |
摘要 |
一种力学性能测试技术的用于薄膜力学性能测试的单轴微拉伸试件,包括U型支撑平台、移动平台、蛇形支撑弹簧、对中标记、位移标记,蛇形支撑弹簧连接U型支撑平台和移动平台,U型支撑平台和移动平台与薄膜试样的两端悬空相连,对中标记位于移动平台的上面,位移标记粘接在靠近薄膜试样、移动平台的尾端。本发明与国内外现有微拉伸试件相比,制备工艺可行,重现性好,成品率高,并且克服了拉伸过程中由支撑梁塑性变形而引起的实验误差。本发明集成式框架微拉伸试件适用于微机电系统中的各种单质金属、合金和复合材料等薄膜材料微观力学性能测试。 |
申请公布号 |
CN101149317A |
申请公布日期 |
2008.03.26 |
申请号 |
CN200710047682.1 |
申请日期 |
2007.11.01 |
申请人 |
上海交通大学 |
发明人 |
汪红;刘瑞;丁桂甫;李雪萍;杨春生 |
分类号 |
G01N3/00(2006.01);G01N13/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N3/00(2006.01) |
代理机构 |
上海交达专利事务所 |
代理人 |
王锡麟;王桂忠 |
主权项 |
1.一种用于薄膜力学性能测试的单轴微拉伸试件,包括U型支撑平台、移动平台、位移标记,其特征在于,还包括蛇形支撑弹簧、对中标记,蛇形支撑弹簧连接U型支撑平台和移动平台,U型支撑平台和移动平台与薄膜试样的两端悬空相连,对中标记位于移动平台的上面,位移标记粘接在靠近薄膜试样、移动平台的尾端。 |
地址 |
200240上海市闵行区东川路800号 |