发明名称 用于薄膜力学性能测试的单轴微拉伸试件
摘要 一种力学性能测试技术的用于薄膜力学性能测试的单轴微拉伸试件,包括U型支撑平台、移动平台、蛇形支撑弹簧、对中标记、位移标记,蛇形支撑弹簧连接U型支撑平台和移动平台,U型支撑平台和移动平台与薄膜试样的两端悬空相连,对中标记位于移动平台的上面,位移标记粘接在靠近薄膜试样、移动平台的尾端。本发明与国内外现有微拉伸试件相比,制备工艺可行,重现性好,成品率高,并且克服了拉伸过程中由支撑梁塑性变形而引起的实验误差。本发明集成式框架微拉伸试件适用于微机电系统中的各种单质金属、合金和复合材料等薄膜材料微观力学性能测试。
申请公布号 CN101149317A 申请公布日期 2008.03.26
申请号 CN200710047682.1 申请日期 2007.11.01
申请人 上海交通大学 发明人 汪红;刘瑞;丁桂甫;李雪萍;杨春生
分类号 G01N3/00(2006.01);G01N13/00(2006.01) 主分类号 G01N3/00(2006.01)
代理机构 上海交达专利事务所 代理人 王锡麟;王桂忠
主权项 1.一种用于薄膜力学性能测试的单轴微拉伸试件,包括U型支撑平台、移动平台、位移标记,其特征在于,还包括蛇形支撑弹簧、对中标记,蛇形支撑弹簧连接U型支撑平台和移动平台,U型支撑平台和移动平台与薄膜试样的两端悬空相连,对中标记位于移动平台的上面,位移标记粘接在靠近薄膜试样、移动平台的尾端。
地址 200240上海市闵行区东川路800号