| 发明名称 | 分析物无创检测的方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供用于组织(208)特性的准确无创检测的方法和装置。本发明的一些实施例包括具有照射子系统(201)和聚集子系统(222)的光学取样器(221)，所述照射子系统适合于将具有第一偏振(205)的光传递到组织表面(208)，所述聚集子系统适合于聚集在与组织(208)相互作用之后而从组织(209)传递的具有第二偏振的光；其中所述第一偏振不同于所述第二偏振。偏振中的差异可阻碍从组织表面(208)镜面反射的光的聚集，并可促进与组织中期望的穿透深度或路径长度分布相互作用的光的优先聚集。例如，不同的偏振可为在其之间具有角度的线偏振或旋向性不同的椭圆偏振。 | ||
| 申请公布号 | CN101151513A | 申请公布日期 | 2008.03.26 |
| 申请号 | CN200680010479.0 | 申请日期 | 2006.02.09 |
| 申请人 | 音莱特解决方案有限公司 | 发明人 | 里斯·M·罗宾森;拉塞尔·E·艾宾克;罗伯特·D·约翰逊 |
| 分类号 | G01J4/00(2006.01);B08B7/00(2006.01) | 主分类号 | G01J4/00(2006.01) |
| 代理机构 | 北京安信方达知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈怡;郑霞 |
| 主权项 | 1.一种光学取样器，包括：a.照射子系统，其适合于将具有第一偏振的光传递到组织表面；b.聚集子系统，其适合于聚集在与所述组织相互作用之后而从所述组织传递的具有第二偏振的光；c.其中所述第一偏振不同于所述第二偏振。 | ||
| 地址 | 美国新墨西哥州 | ||