发明名称 |
测试准备RF集成电路 |
摘要 |
一种集成电路(10),包括混频电路(14,54a)和本地振荡器电路(18,58)。在测试过程中,集成电路(10)中的分频器电路(32,60)将本地振荡器信号分频至低于本地振荡器(18,58)的正常运行范围的频率。在测试过程中,集成电路向混频电路(14,54a)施加分频的本地振荡器信号,而不是本地振荡器信号。在将分频的本地振荡器信号施加于混频电路(14,54a)期间,测量从混频电路(14,54a)导出的信号的性质。 |
申请公布号 |
CN101151545A |
申请公布日期 |
2008.03.26 |
申请号 |
CN200680010496.4 |
申请日期 |
2006.03.27 |
申请人 |
NXP股份有限公司 |
发明人 |
西塞罗·S·沃谢 |
分类号 |
G01R31/317(2006.01);G01R31/28(2006.01) |
主分类号 |
G01R31/317(2006.01) |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 |
代理人 |
朱进桂 |
主权项 |
1.一种可切换到正常运行模式和测试模式的测试准备集成电路(10),所述测试准备集成电路(10)包括:-用于提供测试控制信号的测试控制输入(102),该测试控制信号指示集成电路(10)应运行在正常运行模式下还是测试模式下;-具有本地振荡器输出的本地振荡器电路(18,58);-混频电路(14,54a);-分频器电路(32,60),输入与本地振荡器输出以及分频器输出相连;-复用电路(30,62ab),信号输入与本地振荡器输出以及分频器输出相连,输出与混频电路(14)相连,复用电路(30,62ab)还具有与测试控制输入(102)相连的控制输入,复用电路(30,62ab)被设置成在正常运行模式下将本地振荡器输出与混频电路(14)相连,而在测试模式下将分频器输出代替本地振荡器输出与混频电路(14)相连。 |
地址 |
荷兰艾恩德霍芬 |