发明名称 用于增强半导体器件模塑料的粘着的涂覆
摘要 本发明提供了一种增强模塑胶和半导体器件之间粘着的方法,该半导体器件包含有贴附于载体上的半导体晶片,如引线框,该方法通过在模塑半导体器件之前使用聚合物底漆涂覆该半导体器件来完成。这种涂覆可通过在聚合物溶液中或使用聚合物溶液浸入、下滴或喷射该半导体器件来完成。
申请公布号 TWI295091 申请公布日期 2008.03.21
申请号 TW094144979 申请日期 2005.12.19
申请人 先进自动器材有限公司 发明人 李建雄;周志聪;崔毅乾;刘德明;关燿辉
分类号 H01L23/28(2006.01) 主分类号 H01L23/28(2006.01)
代理机构 代理人 邱昱宇 台北市大安区信义路3段202号7楼之4
主权项 1.一种在模塑半导体器件之前增强模塑胶和半导 体器件之间粘着的方法,该半导体器件包含有贴附 于一引线框上的半导体晶片,该方法包括以下步骤 : 使用一聚合物底漆涂覆该半导体器件使得在该聚 合物底漆与该半导体器件之间构成复杂的接合, 再模塑该半导体器件使得该聚合物底漆与该模塑 胶构成化学接合以增强粘着。 2.如申请专利范围第1项所述的方法,其中该半导体 器件包括有形成于半导体晶片和引线框之间的导 线连接;而该涂覆步骤也包括:在模塑之前使用该 聚合物底漆涂覆该导线连接的步骤。 3.如申请专利范围第1项所述的方法,其中该聚合物 底漆包含有:含氮的聚合物。 4.如申请专利范围第3项所述的方法,其中该含氮的 聚合物选自下列组群,该组群包括:改性三聚胺 酚醛树脂,丙烯酸共聚物和苯并咪唑共聚物。 5.如申请专利范围第4项所述的方法,其中该酚醛树 脂通过多官能酚和醛的反应来产生。 6.如申请专利范围第5项所述的方法,其中该多官能 酚选自下列组群,该组群包括:酚,甲酚,双酚A,双酚F ,双酚S和脂肪链酚。 7.如申请专利范围第1项所述的方法,该聚合物底漆 包含有溶液,该溶液由一个多个溶解于溶剂中的聚 合物所构成。 8.如申请专利范围第7项所述的方法,其中该溶液包 含的聚合物重量为0.01%到50%。 9.如申请专利范围第8项所述的方法,其中该溶液包 含的聚合物重量为1.0%到10%。 10.如申请专利范围第7项所述的方法,该聚合物包 括改性三聚胺酚醛树脂,该溶剂包括水和醇类。 11.如申请专利范围第10项所述的方法,该醇类选自 下列组群,该组群包括:甲醇,乙醇,丙醇和丁醇。 12.如申请专利范围第7项所述的方法,该聚合物包 含有丙烯酸共聚物,该溶剂选自下列组群,该组群 包括:醇类,乙醚,酯,酮,链烷和环烷。 13.如申请专利范围第7项所述的方法,该聚合物包 含有苯并咪唑共聚物,该溶剂选自下列组群,该组 群包括:二甲基甲胺和N-甲基咯烷酮。 14.如申请专利范围第1项所述的方法,其中该聚合 物底漆包含有聚合物胶乳。 15.如申请专利范围第1项所述的方法,该方法还包 含有下述步骤:在使用该聚合物底漆涂覆该半导体 器件以前,使用等离子体清洗该半导体器件。 16.如申请专利范围第1项所述的方法,该方法还包 含有下述步骤: 在使用该聚合物底漆涂覆该半导体器件的步骤之 后,在60-260℃之间的温度下烘烤该半导体器件1-30 分钟。 17.如申请专利范围第16项所述的方法,其中该半导 体器件是在160-210℃之间的温度下被烘烤。 18.如申请专利范围第16项所述的方法,其中该半导 体器件被烘烤3-5分钟。 19.如申请专利范围第1项所述的方法,其中该聚合 物涂覆的厚度是在10nm-0.1mm之间。 20.如申请专利范围第1项所述的方法,其中该聚合 物涂覆的厚度是在300nm-30m之间。 21.一种半导体封装件,其是根据申请专利范围第1 项所述的方法进行处理。 图式简单说明: 图1所示为导线接合后引线框元件的俯视图; 图2所示为根据本发明的较佳实施例的包含有应用 聚合物底漆的封装处理的总图。
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