发明名称 用于多JTAG链的自动测试装置及方法
摘要 本发明公开一种用于多JTAG链的自动测试装置及方法,其装置包括:控制模块,用于根据来自外部访问设备的状态诊断命令对至少一个单板执行网元级数据读写操作并将结果回送给外部访问设备;选择逻辑模块,连接至控制模块和至少一个单板,用于提供单板级JTAG接口工作模式选择功能,一次只进行一块单板级选择;连接模块,用于将每个单板的时钟线并联并连接至控制模块的时钟信号线,将每个单板的输入数据线并联并连接至控制模块的输出数据信号线,将每个单板的输出数据线并联并连接至控制模块的输入数据信号线,将每个单板的模式选择线分别连接至选择逻辑模块的各个模式选择信号线。
申请公布号 CN101141317A 申请公布日期 2008.03.12
申请号 CN200710091181.3 申请日期 2007.04.12
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 王崇明;霍泽人;丁燕
分类号 H04L12/26(2006.01);H04L12/24(2006.01) 主分类号 H04L12/26(2006.01)
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 尚志峰;吴孟秋
主权项 1.一种用于多JTAG链的自动测试装置,其特征在于包括:控制模块,用于根据来自外部访问设备的状态诊断命令 对至少一个单板执行网元级数据读写操作并将结果回送给外部访问设备;选择逻辑模块,连接至所述控制模块和所述至少一个单板,用于提供单板级JTAG接口工作模式选择功能,一次只进行一块单板级选择;以及连接模块,用于将每个所述单板的时钟线并联并连接至控制模块的时钟信号线,将每个所述单板的输入数据线并联并连接至所述控制模块的输出数据信号线,将每个所述单板的输出数据线并联并连接至所述控制模块的输入数据信号线,将每个所述单板的模式选择线分别连接至所述选择逻辑模块的各个模式选择信号线。
地址 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦