发明名称 半导体装置
摘要 本发明提供一种可靠性高的半导体装置及其制造方法。半导体装置具有:半导体基板(10),形成有电极(14);树脂层(20),按照避开所述电极(14)的形式形成;连接盘(32),设在树脂层(20)上;布线(34),将电极(14)和连接盘(32)电连接;和外部端子(40),接合在连接盘(32)上。树脂层(20)包括:第1树脂部(22),避开连接盘(32)对外部端子(40)的接合面(35)的部,并支撑端部;和第2树脂部(24),与第1树脂部(22)相邻。第1树脂部(22)的弹性系数比第2树脂部(24)低。
申请公布号 CN101140916A 申请公布日期 2008.03.12
申请号 CN200710166802.X 申请日期 2005.05.24
申请人 精工爱普生株式会社 发明人 黑泽康则
分类号 H01L23/485(2006.01);H01L23/28(2006.01);H01L23/29(2006.01);H01L23/31(2006.01) 主分类号 H01L23/485(2006.01)
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 李香兰
主权项 1.一种半导体装置,其中,半导体基板,其具有集成电路,形成有电极;树脂层,按照避开所述电极的形式被形成在所述半导体基板上;连接盘,其被设置在所述树脂层上;布线,用于将所述电极和所述连接盘电连接;和外部端子,其接合在所述连接盘上;所述树脂层包括:第1树脂部,其避开所述连接盘对所述外部端子的接合面的中央部,并支撑端部;和第2树脂部,其与所述第1树脂部相邻;所述第1树脂部的弹性系数比所述第2树脂部低;所述第1树脂部避开所述连接盘对所述布线的连接部的下方,在围绕所述接合面的所述中央部的周缘部的下方形成;在所述连接盘对所述布线的所述连接部的下方,形成所述第2树脂部的一部分。
地址 日本东京