发明名称 | 荧光粉激发测量装置 | ||
摘要 | 本实用新型涉及一种荧光粉激发测量装置。包括可调功率的激发光源、曝光和测量的暗箱;激发光源附近设置监测激发光源的监视探测器,在暗箱内靠近激发光源的下方设置可调光阑,激发光辐射到暗箱内的荧光粉试样或实测探测器,在暗箱上设置发射光接收装置。该荧光粉激发测量装置能非常方便准确地调节辐射到荧光粉上的激发光照度,且照度调节可以保证激发光相对光谱功率分布不变。可用于准确测量蓄光型荧光粉以及其它类型荧光粉的发光性能。 | ||
申请公布号 | CN201034939Y | 申请公布日期 | 2008.03.12 |
申请号 | CN200720108153.3 | 申请日期 | 2007.04.13 |
申请人 | 杭州远方光电信息有限公司 | 发明人 | 潘建根 |
分类号 | G01N21/64(2006.01) | 主分类号 | G01N21/64(2006.01) |
代理机构 | 杭州杭诚专利事务所有限公司 | 代理人 | 林宝堂 |
主权项 | 1.一种荧光粉激发测量装置,其特征在于包括激发光源(1),用于曝光和测量的暗箱(3),在暗箱(3)内靠近激发光源(1)下方设置一个可调光阑(4),在激发光源(1)的下方设有放置荧光粉试样的粉盘(5)或实测探测器(6),在暗箱(3)上设置有与测量仪表相连的至少一个发射光接收装置(7)。 | ||
地址 | 310053浙江省杭州市滨江区滨康路669号 |