发明名称 用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置
摘要 本发明公开了一种用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置,其包括:隔离模块,单板上的JTAG插座和JTAG器件的菊花链通过隔离模块连接至外部器件,隔离模块用于使JTAG插座调试单板时,JTAG器件的<img file="200710111550.0_AB_0.GIF" wi="43" he="25" />接口的电平变化不对外部器件进行误复位;以及复位电路,用于提供有效的复位脉冲给外部器件,并通过隔离模块将复位脉冲提供给JTAG器件的菊花链。通过本发明,使得JTAG芯片的TAP口在处于BST测试状态和正常工作上电复位状态两种状态的情况下,都可以可靠地进入正确状态。
申请公布号 CN101140298A 申请公布日期 2008.03.12
申请号 CN200710111550.0 申请日期 2007.06.19
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 石晶
分类号 G01R1/30(2006.01);G01R31/28(2006.01);H03K17/22(2006.01) 主分类号 G01R1/30(2006.01)
代理机构 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人 吴孟秋
主权项 1.一种用于单板上的JTAG链路的测试访问端口的复位装置,其特征在于,包括:隔离模块,所述单板上的JTAG插座和JTAG器件的菊花链通过所述隔离模块连接至外部器件,所述隔离模块用于使所述JTAG插座调试单板时,JTAG器件的<img file="A2007101115500002C1.GIF" wi="116" he="50" />接口的电平变化不对所述外部器件进行误复位;以及复位电路,用于提供有效的复位脉冲给所述外部器件,并通过所述隔离模块将所述复位脉冲提供给所述JTAG器件的菊花链。
地址 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦